泰瑞達交付第 8,000 臺 J750 半導(dǎo)體測試系統(tǒng)
發(fā)布日期:2024-06-05
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來源:泰瑞達 作者:泰瑞達
2024年5月21日,中國 北京訊 —— 全球先進的自動測試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(NASDAQ:TER)今日宣布,與獨立第三方集成電路測試服務(wù)企業(yè)偉測科技共同達成一項里程碑式結(jié)果,暨順利交付第 8,000 臺 J750 半導(dǎo)體測試平臺。
泰瑞達 J750 測試機包括晶圓分類和封裝測試解決方案,適用于微控制器單元、無線設(shè)備、圖像傳感器等,已在全球各大半導(dǎo)體芯片制造商工廠中廣泛部署。J750 測試機在質(zhì)量、上市時間和成本效益方面占據(jù)行業(yè)領(lǐng)先優(yōu)勢,有助于提高產(chǎn)能、增加工位數(shù),減少單工位測試時長,并優(yōu)化并行測試效率。
偉測科技致力于為中國及海外的先進無晶圓廠集成電路設(shè)計公司提供測試服務(wù)和生產(chǎn)能力。該公司的測試范圍包括消費電子、汽車 SoC 等多種產(chǎn)品,服務(wù)范圍涵蓋汽車、計算、移動、功率和消費產(chǎn)品等不同終端產(chǎn)品領(lǐng)域,致力于幫助其支柱性客戶生產(chǎn)大批量、多樣化產(chǎn)品。
偉測科技首席執(zhí)行官駢文勝表示:“自偉測科技七年前創(chuàng)立之初,泰瑞達便作為我們不可或缺的重要合作伙伴,始終給予我們堅定的支持。多年的合作經(jīng)驗使我們感受到泰瑞達測試設(shè)備的優(yōu)異性能。其 J750 系統(tǒng)在 MCU/SoC 測試領(lǐng)域展現(xiàn)出優(yōu)越的質(zhì)量、可靠性和可擴展性,我們也因此將其作為首選平臺。正是基于對這一杰出平臺的信賴與投入,我們在業(yè)務(wù)上不斷精進,并在半導(dǎo)體測試行業(yè)競爭中保持領(lǐng)先地位。”
偉測科技在量產(chǎn)和測試工程中部署了超過 100 臺泰瑞達 SoC 測試設(shè)備,其中包括首批運抵中國的 UltraFLEXplus 測試系統(tǒng)。
泰瑞達 SoC 產(chǎn)品營銷副總裁兼總經(jīng)理 Regan Mills 表示:“泰瑞達團隊始終致力于與全球客戶緊密合作,為其打造出色測試解決方案,助其適應(yīng)日益多樣化的半導(dǎo)體產(chǎn)品市場。這一嶄新的里程碑不僅是對我們雙方深厚合作伙伴關(guān)系的熱烈祝賀,更是對偉測科技矚目成長的高度贊揚,同時也進一步鞏固了其作為行業(yè)領(lǐng)軍者的前沿地位。”
經(jīng)過驗證的平臺和屢獲殊榮的軟件
泰瑞達的 J750 系列是先進的 MCU 設(shè)備測試解決方案,適用于汽車和消費應(yīng)用以及圖像傳感器測試。該系列能持續(xù)提供可靠、可重復(fù)的設(shè)備測試結(jié)果,也因此深受廣泛汽車半導(dǎo)體供應(yīng)商認可。J750 利用泰瑞達屢獲殊榮的 IG-XL 軟件平臺來幫助驗證對汽車市場至關(guān)重要的測試程序。對于追求零缺陷和多工位產(chǎn)能的半導(dǎo)體制造商而言,采用“零占用空間”設(shè)計的 J750 堪稱測試質(zhì)量標桿。
此外,IG-XL 軟件平臺對于快速程序開發(fā)非常關(guān)鍵,能夠自動擴展以支持多工位測試,進而節(jié)省大量開發(fā)時間和成本,與同類 ATE 軟件系統(tǒng)相比,可將多工位測試程序的開發(fā)速度提高 30%。
關(guān)于泰瑞達:
泰瑞達(NASDAQ:TER)以更快的速度向市場推出諸如智能設(shè)備,救生醫(yī)療設(shè)備和數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)等高質(zhì)量的創(chuàng)新產(chǎn)品。其對于半導(dǎo)體、電子系統(tǒng)、無線設(shè)備等先進測試解決方案,可以確保產(chǎn)品按照設(shè)計標準運行。泰瑞達的工業(yè)自動化產(chǎn)品包括可協(xié)作的移動機器人,能夠幫助各種規(guī)模的制造商提高產(chǎn)能并且降低成本。2023年泰瑞達的營收達27億美元。如今,泰瑞達在全球擁有約6500名員工。更多信息,請訪問teradyne.com 官網(wǎng)。Teradyne?是Teradyne, Inc.在美國和其他國家/地區(qū)的注冊的商標。
關(guān)于偉測:
偉測科技(證券代碼 688372)是獨立第三方集成電路測試服務(wù)企業(yè),為客戶提供專業(yè)高效的測試服務(wù)和一站式測試解決方案。公司總部位于上海浦東新區(qū),在上海、無錫、南京、深圳設(shè)有4大測試中心。我們始終專注在芯片測試領(lǐng)域,堅持“以中高端晶圓及成品測試為核心,積極拓展工業(yè)級、車規(guī)級及高算力產(chǎn)品測試”的競爭策略,提供從測試方案開發(fā)、晶圓測試、芯片成品測試、SLT測試、老化測試、In Tray Mark、Lead Scan 等全流程測試服務(wù),測試產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于通訊、計算機、汽車電子、工業(yè)控制、消費電子等領(lǐng)域,贏得了行業(yè)廣大中高端客戶的信賴。
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